浅谈如何限定权利要求技术特征以降低侵权认定难度

发布时间: 2018-02-05

作者潘一诺 专利代理人

专利权是发明创造人或其权利受让人对特定的发明创造在一定期限内依法享有的独占实施权。专利权人对其拥有的专利权享有独占或排他的权利,未经其许可或者出现法律规定的特殊情况,任何人不得使用,否则即构成侵权。而专利权的范围是专利权人能否有效行使其专利权的关键所在。

根据《专利法》第五十九条的规定,发明或者实用新型专利权的保护范围以其权利要求的内容为准,说明书及附图可以用于解释权利要求的内容。根据《最高人民法院关于审理侵犯专利权纠纷案件应用法律若干问题的解释》第七条的规定,人民法院判定被诉侵权技术方案是否落入专利权的保护范围,应当审查权利人主张的权利要求所记载的全部技术特征。由此可见,权利要求中的特征限定对是否构成专利侵权的认定起到了重要的作用。

通常,技术方案中的技术特征可以采用不同的描述方式来进行限定。对此,如何描述权利要求的特征使其具有“易测易现”的特点从而能够在侵权比对中减少证明难度,是专利权利要求撰写需要考量的问题。

下述案例,帮助我们深入思考权利要求中技术特征限定的确定。

申请号为201511000550.4、发明名称为“触控显示装置、触控显示面板及阵列基板”的发明专利,发明人的技术方案提供了“一种自容式内嵌触控过孔设计方式”。该设计方式所要解决的问题是:由于触控引线110采用截断式方式,使得区域121和区域122的过孔130数量差异较大,导致显示画面出现显示不均的问题(现有技术如下图所示)。该设计方式的技术方案为:在触控引线110之间设置具有过孔的辅助触控引线,以均匀过孔密度。

●该方案独权的一种撰写方式可以是:

1、一种阵列基板,其特征在于,包括:

基板;

多个像素单元,设置在所述基板上;

公共电极层,包括第一过孔区和第二过孔区,所述公共电极层被分割成多个自电容电极,每个所述自电容电极覆盖多个像素单元:

驱动电路,驱动所述自电容电极;

多根触控引线,通过第一过孔连接相应的所述自电容电极,并将所述自电容电极连接到所述驱动电路,其中:

在所述第一过孔区,沿所述触控引线方向或垂直所述触控引线方向的相邻两个第一过孔之间具有多个像素单元;

在所述第二过孔区,所述触控引线为连续的并贯穿所述第二过孔区内整列自电容电极,并不设置所述第一过孔;

多根辅助引线,位于相邻两根触控引线之间,通过第二过孔连接所述自电容电极,其中:

所述第一过孔区中的单位像素单元的第二过孔的数量小于所述第二过孔区中的单位像素单元的第二过孔的数量。

该独权的撰写方式中,将技术方案的所要解决的技术问题中的区域121限定为第一过孔区和区域122限定为第二过孔区。可以理解,区域的划分若不经过限定是无法在产品上直接能够获得的,为了在后续侵权认定中,该方式通过获得的产品即可区分该第一过孔区和该第二过孔区,在权利要求中通过第一过孔区和第二过孔区内的触控引线的和第一过孔的不同设置来进行限定和描述。

然而,由于在本技术方案中,第一过孔区和第二过孔区是非实体概念,其范围和划分并非如显示区和非显示区那般显而易见,因此,在即使对第一过孔区和第二过孔区进行描述,也有可能会产生歧义进而增加后续侵权认定的难度。

为了减少独权的特征描述的歧义并降低侵权认定难度,提供独权的另一种撰写方式:

1、一种阵列基板,其特征在于,包括:

基板;

多个像素单元,设置在所述基板上;

多列触控电极,每列所述触控电极包括X个触控电极,每个所述触控电极覆盖多个所述像素单元:

驱动电路,驱动所述触控电极;

触控引线,通过第一过孔连接至对应的触控电极,并将对应的所述触控电极连接至所述驱动电路;

对于每一列所述触控电极,所述触控引线贯穿第1个至第x个所述触控电极并与第x个所述触控电极对应时:

所述触控引线在第x个至第X个所述触控电极的相邻触控电极之间断开,并在第x+1个至第X个所述触控电极上设置第二过孔,使每段所述触控引线通过所述第二过孔连接至所述第二过孔所在的所述触控电极;

至少一根辅助引线,位于相邻两根触控引线之间,所述辅助引线通过第三过孔连接至所述第三过孔所在的所述触控电极,且在相邻触控电极之间断开,其中:

对于每一列所述触控电极,在所述第1个至第x-1个触控电极上设置辅助过孔,使得位于与第x个所述触控电极对应的所述触控引线旁的所述辅助引线通过所述辅助过孔连接至所述辅助过孔所在的触控电极,

其中,X为大于等于2的整数,且当X大于2时,x为2至X-1之间的整数。

在该独权的撰写方式中,放弃了对两个区域的特征限定,由于两个区域是由触控引线、触控电极和过孔的不同设置而划分的,因此,可以选择跳脱出发明人提供的技术方案的描述,通过另一个方向,即对触控引线、触控电极和过孔进行限定描述。相比于“区域”这个非实体概念,触控引线、触控电极及过孔都是实际可以观察、测量的实体结构。由此,通过描述实体结构来避免对区域限定的歧义,进而减少后续侵权认定的难度。

综上所述,权利要求中对于特征的描述应充分考量其对于后续侵权取证难易程度的影响。当技术方案特征可以通过实体概念和非实体概念进行描述时,可以优先选择“易测易得”的实体概念进行描述,由此来减少针对该特征的侵权取证难度。即使选择对非实体概念进行描述,也应采用“易测易得”的限定方式进行限定,以便认定侵权。

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